设计调试是一个复杂的进程，通常需要在各视图/报告之间进行切换。Vitis 分析器支持此功能，并且允许详细检查各项事件及其关联的时序。交叉探测允许您在不同视图中探测数据，使您在同一个窗口内即可查看不同透视图中的所有 I/O 数据，包括特定拼块或端口上的数据、事件发生的时间。Trace（追踪）和Graph视图可显示在同一个窗口中，在Trace视图中移动时间标记或者在Graph视图中选择对象的操作同时适用于这两个视图。
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Window Layout（窗口布局）工具栏（下图中已圈出）可用于管理视图/报告。在下图中，已选中Trace和Graph视图，使其显示在相同窗口中。
- 筛选按钮功能（下图中已圈出）用于选择要在“Trace”视图中包含或排除的拼块、函数、输入/输出端口、DMA、锁定以便聚焦感兴趣区域。
- 拖动时间标记即可将时间向后或向前移动，以便评估给定时间的事件。在Trace视图的事件表（屏幕底部）中会高亮显示在选定的时间后发生的事件。
- 选择Graph视图中的对象映射 graph、拼块、I/O 端口和信号线连接，以查看对象 ID、类型、方向、数据类型、缓冲器和已连接的端口。
- 在Trace视图中提供了 I/O 端口的视图（下图中已圈出）。此设计示例使用复杂的 16 位值类型 (
cint16)。
这些步骤在Graph视图（右侧）中显示了一个输出端口对象，此对象位于设计执行后的 4,341.000 ns 处，在Trace视图（左侧）中输出数据可用处也显示了此输出端口对象。将时间标记移至Trace视图中靠后的时间，就会在事件表（Trace视图的下半部分）中高亮显示相应的事件，以指示该时间点发生的事件。此信息对于多处理器环境内的相关事件很有用。其它示例可以在 Vitis 分析器工具中利用此交叉探测功能特性。