エラー検出レイテンシ - 3.1 日本語

UltraScale Architecture Soft Error Mitigation Controller v3.1 LogiCORE IP 製品ガイド (PG187)

Document ID
PG187
Release Date
2019-05-22
Version
3.1 日本語

エラー軽減レイテンシ全体に占める割合が最も大きいのが、エラー検出レイテンシです。このレイテンシは FPGA のサイズ (フレーム数) およびソリューションのクロック周波数によって変わります。また、エラーのタイプ、およびシリコン リードバック プロセスの位置を基準としたエラーの相対位置によっても変わります。

表: UltraScale デバイスの最大 IP エラー検出時間 (ICAP FMax の場合) 表: UltraScale+ デバイスの最大 IP エラー検出時間 (ICAP FMax の場合) に、IP のエラー検出時間を示します。 これらの数値は、IP が軽減 (+ テスト) モード (検出および訂正)、検出 (+ テスト) モード、および検出ステートの場合のものです。

表 2-7: UltraScale デバイスの最大 IP エラー検出時間 (ICAP F Max の場合)

デバイス

検出時間 (ICAP F Max 、ms)

UltraScale

XCKU035

22

XCKU040 (1)

22

XCKU060

30

XCKU085

30

XCKU095

41

XCKU115

30

XCVU065

30

XCVU080

41

XCVU095

41

XCVU125

30

XCVU160

30

XCVU190

30

XCVU440

58

注記:

1. ハードウェアで計測されています。 このアーキテクチャのほかのデバイスのデータは、
この計測値を元に外挿で求めます。

表 2-8: UltraScale+ デバイスの最大 IP エラー検出時間 (ICAP F Max の場合)

デバイス

検出時間 (ICAP F Max 、ms)

UltraScale+

XCKU3P

19

XCKU5P

19

XCKU9P

28

XCKU11P

29

XCKU13P

33

XCKU15P

42

XCVU3P (1)

32

XCVU5P

52

XCVU7P

52

XCVU9P (1)

52

XCVU11P

57

XCVU13P

57

XCVU27P

57

XCVU29P

57

XCVU31P

37

XCVU33P

37

XCVU35P

57

XCVU37P

57

XCZU2

9

XCZU3

9

XCZU4

13

XCZU5

13

XCZU6

28

XCZU7

26

XCZU9

28

XCZU11

29

XCZU15

33

XCZU17

42

XCZU19

42

XCZU21DR

40

XCZU25DR

40

XCZU27DR

40

XCZU28DR

40

XCZU29DR

40

注記:

1. ハードウェアで計測されています。 このアーキテクチャのほかのデバイスのデータは、
この計測値を元に外挿で求めます。

実際の動作周波数でのターゲット デバイスの IP エラー検出時間は、 表: UltraScale デバイスの最大 IP エラー検出時間 (ICAP FMax の場合) および 表: UltraScale+ デバイスの最大 IP エラー検出時間 (ICAP FMax の場合) のデータと この等式 から見積もることができます。

式 2-2 pg187-product_spec00005.jpg

エラー検出レイテンシには次の制限があります。

ECC による検出の場合、最大エラー検出レイテンシは DetectionTime ACTUAL

CRC のみによる検出の場合、絶対最大エラー検出レイテンシは 2.0 × DetectionTime ACTUAL

1 回の SEU イベントで 4 つの隣接するフレームにまたがる複数ビット エラーが発生した場合、SEM Controller のアルゴリズムは 2 フレーム目以降のエラー検出時間が最小限に抑えられるように最適化されています。このアルゴリズムにより、コントローラーは 4 つの隣接したフレームにまたがる最大 16 ビットのエラーを 1 回のスキャンで検出および訂正できます。1 ビット エラーのワースト ケースの検出時間に 1 ビット エラーの数を掛けたものが、複数ビット エラー全体のワースト ケースの検出時間となります。

診断スキャン機能を使用した場合のエラー検出レイテンシは軽減 (+ テスト) モード、検出 (+テスト) モード、または検出スキャンよりもはるかに大きく、その値はデバイス、検出されるエラーの数、および実際の動作周波数によって異なります。

たとえば KU040 のコンフィギュレーション メモリに 3 つのエラーが存在する場合、クロック周波数 90MHz で診断スキャンを実行すると、すべてのエラーを検出して報告するのに 70 秒かかります。