エラー分類をサポートするために外部データ ストレージが必要な場合、特別な write_bitstream 出力ファイルを SPI フラッシュ プログラミング ファイルにポストプロセスするための Tcl スクリプトを実行します。
サンプル プロジェクトでは makedata.tcl スクリプトが生成されます。ビットストリームの生成が完了したら、スクリプトの場所を指定して Tcl コンソールでこのスクリプトを source コマンドで実行します。
source <path to component_name>_ex/imports/makedata.tcl
source sem_ultra_0_ex/imports/makedata.tcl
次に、インプリメンテーション結果のディレクトリを見つけます。 [Design Runs] ウィンドウをクリックし、実行したインプリメンテーションを選択し、 [Implementation Run Properties] ウィンドウに表示される Run ディレクトリを確認します。Tcl コンソールでインプリメンテーション結果のディレクトリに移動し、 write_bitstream 出力ファイルに対して makedata スクリプトを実行します。
cd <path to component_name>_ex/<component_name>_ex.runs/impl_1
cd sem_ultra_0_ex/sem_ultra_0_ex.runs/impl_1
次に、後述のコマンドを実行します。モノリシック デバイスの場合、 write_bitstream によって *.ebd ファイルが 1 つだけ生成されます。このファイル名を引数として渡します。 UltraScale SSI デバイスの場合、デバイスのすべての SLR に対して *.ebd ファイルが 1 つずつ生成されます。
注記: 2017.1 では、分類機能は UltraScale+ デバイスではサポートされません。
これら *.ebd ファイルのエッセンシャル ビット データを 1 つの SPI フラッシュ データ ファイルにまとめるには、すべての *.ebd ファイル名をスペースで区切って引数として渡します。
makedata -ebd <ebd filename(s)> datafile
モノリシック デバイスの場合の例:
makedata -ebd sem_ultra_0_example_design.ebd datafile
SSI デバイス (SLR が 3 つ) の場合の例:
makedata -ebd sem_ultra_0_example_design_0.ebd sem_ultra_0_example_design_1.ebd sem_ultra_0_example_design_2.ebd datafile
このコマンドを実行すると VMF、BIN、および MCS ファイルが生成されます。
推奨: makedata.tcl ファイルはターゲット デバイスおよび必要な SPI フラッシュ デバイス ( 表: 外部ストレージの要件 参照) に応じて 2 種類が提供されています。異なる SPI フラッシュ プログラミング ファイルを生成する必要があるため、 write_bitstream 出力ファイルも異なるポストプロセスが必要です。 makedata.tcl ファイルは別のプロジェクトのものを再利用するのではなく、ターゲット デバイスのサンプル デザイン用に生成した makedata.tcl ファイルを使用することを推奨します。