SEM Controller の検証目標は、製品の機能仕様を元に決定しています。 高い製品品質を確保するため、検証にはハードウェア検証メソドロジを使用します。使用した手法とツールは次のとおりです。
• ハードウェア テストベンチによるダイナミック チェック。期待されるビヘイビアーと実際のデザインのビヘイビアーを機能カバレッジで比較。
• 次に示すチェック ツール スイートによるスタティック チェック。
° リント
° クロック ドメイン クロッシング (クロック乗せ換え)
ハードウェア検証プラットフォームで使用した SPI フラッシュ デバイスは次のとおりです。
• 読み出し境界 256Mb のデバイス
° M25P128 (ST Microelectronics/Numonyx)
° M25L25635E (Macronix)
° N25Q512 (Micron)
° N25Q00 (Micron)
• 読み出し境界のないデバイス
° MT25QL01GB (Micron)
° MT25QL02GC (Micron)