ほとんどのシリコン デバイスは、電離放射線から望ましくない影響を受ける可能性があります。1 回のイベントで生じる望ましくない影響を、シングル イベント効果 (SEE) と総称します。ほとんどの場合、このイベントによってシリコン デバイスが恒久的な損傷を受けることはありません。このように、デバイスに恒久的な損傷を与えない SEE をソフト エラーと呼びます。ただしソフト エラーによって信頼性が低下する可能性があります。
ザイリンクスのデバイスはソフト エラーの影響を受けにくいように設計されています。ただし、商業性などを考慮した現実的な制約の中でソフト エラーを完全になくすのは不可能であることもザイリンクスは認識しています。
このため、ザイリンクスの多くのデバイス ファミリはソフト エラーの検出/訂正機能を内蔵しています。
ソフト エラーは多くのアプリケーションで無視できます。 特に高い信頼性が要求されるアプリケーションでは、UltraScale™ Architecture SEM Controller を使用することでこの要求を満たすことができます。
SEM コントローラーを使用した方がよいアプリケーションでは、 IP デザインのチェックリスト に記載されたガイダンスおよび考慮事項に従って SEM Controller を使用および統合してください。