[Device] ウィンドウでのインターコネクトの密集度 - 2023.2 日本語

Versal アダプティブ SoC システム統合および検証設計手法ガイド (UG1388)

Document ID
UG1388
Release Date
2023-11-15
Version
2023.2 日本語

インターコネクトの密集度メトリクスは、配線リソースが過剰に使用されている最大の連続エリアをハイライトします。デフォルトでは、初期配置後の密集度と同様、このメトリクスは見積もりに基づきます。配線が存在する場合は、実際の配線も表示できます。配置後または配線後に Device ウィンドウを右クリックして Metric > Interconnect Congestion Level をクリックすると、この密集メトリクスを表示できます。

このメトリクスを使用すると、デバイス上の密集している部分を全体的にすばやく目で確認できます。次の図に、いくつかの密集エリアを含む配置済みデザインを示します。このメトリクスは、現在のインターコネクトの需要と供給に基づいており、しきい値は 0.9 (配線使用率 90%) に設定されています。有効な範囲は 0.1 ~ 0.9 です。

密集は、次の項目に基づいて表示できます。

  • [Direction] (方向): [North] (上)、[South] (下)、[East] (右)、[West] (左)、[Vertical] (垂直)、[Horizontal] (水平)
  • [Type] (タイプ): [Short] (短い)、[Long] (長い)、[Global] (グローバル)
  • [Style] (スタイル): [Estimated] (見積もり)、[Routed] (配線済み)、[Mixed] (混合)
図 1. Device ウィンドウでのインターコネクトの密集度の例