下表描述了其它状态信号和控制信号。
名称 | I/O | 时钟域 | 描述 |
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ctl_tx_ipg_value[3:0] | 输入 |
此信号为可选。ctl_tx_ipg_value 用于定义在 rx_serdes_clk 包之间插入的目标平均最小包间间隔(IPG,以字节为单位)。 典型值为 12。ctl_tx_ipg_value 还可编程为范围介于 0 到 7 之间的值,但在此情况下,它解释为表示“最小 IPG”,因此仅插入终止 (Terminate) 代码字 IPG;在此情况下从不添加空闲 (Idle),因此发射随机大小的数据包时,生成的 IPG 平均约为 4 字节。 |
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stat_rx_got_signal_os | 输出 | rx_clk_out | Signal OS 指示。如果该位采样为 1,则表示接收到“Signal OS”字。 注释: 在以太网网络中不应接收到 Signal OS
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ctl_rx_process_lfi | 输入 | rx_clk_out | 当此输入设为 1 时,RX 核预计应从 SerDes 传入本地故障 (LF) 控制代码并且会对其进行处理。设置为 0 时,RX 核会忽略从 SerDes 传入的 LF 控制代码。 |
ctl_rx_test_pattern | 输入 | rx_clk_out | 针对 RX 核启用测试模式检查。值为 1 即表示根据第 82.2.17 条中的定义启用测试模式。对应于第 82.3 条中所定义的 MDIO 寄存器位 3.42.2。检查扰码空闲模式。 |
ctl_tx_test_pattern | 输入 | clk | 针对 TX 核启用测试模式生成。值为 1 即表示根据第 82.2.10 条中的定义启用测试模式。对应于第 82.3 条中所定义的 MDIO 寄存器位 3.42.7。生成扰码空闲模式。 |
stat_rx_test_pattern_mismatch[3|2|1|0:0] | 输出 | rx_clk_out | 测试模式不匹配数递增值。任一周期内的非 0 值均表示 RX 核中在测试模式下发生的不匹配次数。仅当 ctl_rx_test_pattern 设置为 1 时,此输出才有效。此输出可用于根据第 82.3 条的定义生成 MDIO 寄存器 3.43.15:0。此输出将脉冲 1 个时钟周期。 |