选择调试接口 - 2023.2 简体中文

Versal 自适应 SoC 系统和解决方案规划方法指南 (UG1504)

Document ID
UG1504
Release Date
2023-11-15
Version
2023.2 简体中文

Versal 架构可提供多个物理接口,用于将调试器连接到 DPC。下表显示了针对不同用例建议使用的调试接口。

注释: PS 的各 APU 和 RPU 均可通过集成到 PS 中的 Arm® CoreSight™ 基础架构来进行调试。CoreSight 架构可通过 JTAG-DAP、HSDP、PL 和 PCIe® 接口来访问。欲知详情,请访问此链接以参阅 Versal 自适应 SoC 技术参考手册(AM011) 中的相应内容。
表 1. 基于调试目标建议使用的调试接口
建议的调试接口 调试目标 注释
JTAG
  • 基本硬件调试,使用 AXIS-ILA、AXIS-VIO 和其他硬件调试核
  • 小型 PDI 下载
使用 JTAG 允许低速连接至设计中的所有调试核,无需进行额外设计修改
JTAG + HSDP(含 SmartLynq+ 的 Aurora)
  • 高级硬件调试,使用许多 AXIS-ILA、AXIS-VIO 和其他硬件调试核
  • 不使用 SD 卡的情况下启动大型 Linux 镜像,使用 XSDB 初始化存储器空间
  • 大型 PDI 下载
将 HSDP 与 SmartLynq+ 模块搭配使用即可建立速度比 JTAG 快得多的调试连接,且只需对设计进行些许修改即可